RAMAN-SCATTERING ANALYSIS OF DISORDER IN HETEROGENEOUS (GAAS)1-X(SIC2-H)X FILMS GROWN BY METAL ORGANIC-CHEMICAL VAPOR-DEPOSITION - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 1987

RAMAN-SCATTERING ANALYSIS OF DISORDER IN HETEROGENEOUS (GAAS)1-X(SIC2-H)X FILMS GROWN BY METAL ORGANIC-CHEMICAL VAPOR-DEPOSITION

F Maury
  • Fonction : Auteur
Robert Carles
Jb Renucci
  • Fonction : Auteur

Résumé

no abstract

Dates et versions

hal-01481848 , version 1 (02-03-2017)

Identifiants

Citer

F Maury, Robert Carles, Georges Landa, Jb Renucci. RAMAN-SCATTERING ANALYSIS OF DISORDER IN HETEROGENEOUS (GAAS)1-X(SIC2-H)X FILMS GROWN BY METAL ORGANIC-CHEMICAL VAPOR-DEPOSITION. Thin Solid Films, 1987, 155 (2), pp.331-342. ⟨10.1016/0040-6090(87)90078-2⟩. ⟨hal-01481848⟩
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