RAMAN-SCATTERING ANALYSIS OF DISORDER IN HETEROGENEOUS (GAAS)1-X(SIC2-H)X FILMS GROWN BY METAL ORGANIC-CHEMICAL VAPOR-DEPOSITION
Résumé
no abstract
Georges Landa : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01481848
Soumis le : jeudi 2 mars 2017-23:41:05
Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:21