A Combined SThM/SEM Instrument For The Investigation Of Influent Parameters In Nano-scale Thermal Contact - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

A Combined SThM/SEM Instrument For The Investigation Of Influent Parameters In Nano-scale Thermal Contact

Domaines

Thermique [physics.class-ph]

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https://hal.science/hal-01464993

Soumis le : vendredi 10 février 2017-16:50:10

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01464993 , version 1 (10-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01464993 , version 1

Citer

S. Gomès, D. Renahy, P. Vincent. A Combined SThM/SEM Instrument For The Investigation Of Influent Parameters In Nano-scale Thermal Contact. Minicolloque Nanoconduction et Nanoradiation, Journées de la Matière Condensée, Aug 2016, Bordeaux, France. ⟨hal-01464993⟩

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