A Combined SThM/SEM Instrument For The Investigation Of Influent Parameters In Nano-scale Thermal Contact - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

A Combined SThM/SEM Instrument For The Investigation Of Influent Parameters In Nano-scale Thermal Contact

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01464982 , version 1 (10-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01464982 , version 1

Citer

S. Gomès, D. Renahy, Pascal Vincent. A Combined SThM/SEM Instrument For The Investigation Of Influent Parameters In Nano-scale Thermal Contact. Nanoscale 2016, Mar 2016, Wroclaw, Poland. ⟨hal-01464982⟩
43 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Mastodon Facebook X LinkedIn More