Thermal conductances of silicon sub-mean free path heat sources measured with a four-probe electrical setup - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Thermal conductances of silicon sub-mean free path heat sources measured with a four-probe electrical setup

W. Jaber
  • Fonction : Auteur
Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon
C. Chevalier
  • Fonction : Auteur
STMicroelectronics [Grenoble]
C. Abs Da Cruz
  • Fonction : Auteur
Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon
E. Nefzaoui
CV
P.-O. Chapuis
Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon
CV

Domaines

Thermique [physics.class-ph]

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https://hal.science/hal-01464975

Soumis le : vendredi 10 février 2017-16:38:03

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01464975 , version 1 (10-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01464975 , version 1

Citer

W. Jaber, C. Chevalier, C. Abs Da Cruz, E. Nefzaoui, P.-O. Chapuis. Thermal conductances of silicon sub-mean free path heat sources measured with a four-probe electrical setup. MRS Spring meeting, Symposium M on “Nanoscale Heat Transfer – From fundamentals to devices, Apr 2015, San Francisco, United States. ⟨hal-01464975⟩

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