Scanning thermal microscopy and Raman thermometry for the measurement of effective thermal conductivities in porous silicon−related materials - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Scanning thermal microscopy and Raman thermometry for the measurement of effective thermal conductivities in porous silicon−related materials

Domaines

Thermique [physics.class-ph]

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https://hal.science/hal-01464969

Soumis le : vendredi 10 février 2017-16:32:57

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01464969 , version 1 (10-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01464969 , version 1

Citer

M. Massoud, P.−o. Chapuis, B. Canut, S. Gomès, J.M. Bluet. Scanning thermal microscopy and Raman thermometry for the measurement of effective thermal conductivities in porous silicon−related materials. MRS Spring Meeting − symposium M “Nanoscale Heat Transport—From Fundamentals to Devices, Apr 2015, San Francisco, United States. ⟨hal-01464969⟩

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