HRTEM study of structural defects and related deformation mechanisms induced by nanocompression of silicon - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

HRTEM study of structural defects and related deformation mechanisms induced by nanocompression of silicon

A. Merabet
  • Fonction : Auteur
C. Tromas
M. Verdier
A. Talneau
  • Fonction : Auteur
J. Godet
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01453338 , version 1 (02-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01453338 , version 1

Citer

A. Merabet, M. Texier, C. Tromas, M. Verdier, A. Talneau, et al.. HRTEM study of structural defects and related deformation mechanisms induced by nanocompression of silicon. European Microscopy Congress, Aug 2016, Lyon, France. ⟨hal-01453338⟩
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