Article Dans Une Revue
Journal of Alloys and Compounds
Année : 2015
Bruno Gallas : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01451551
Soumis le : mercredi 1 février 2017-11:27:11
Dernière modification le : mardi 30 avril 2024-11:42:16
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01451551 , version 1
- DOI : 10.1016/j.jallcom.2015.06.114
Citer
D. Abdelkader, F. Chaffar Akkari, N. Khemiri, B. Gallas, F. Antoni, et al.. Structural and spectroscopic ellipsometry studies on vacuum-evaporated Sn2m−4Sb4S2m+2 (m = 2.5, 3 and 4) thin films deposited on glass and Si substrates. Journal of Alloys and Compounds, 2015, 646, pp.1049-1057. ⟨10.1016/j.jallcom.2015.06.114⟩. ⟨hal-01451551⟩
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