Structural and spectroscopic ellipsometry studies on vacuum-evaporated Sn2m−4Sb4S2m+2 (m = 2.5, 3 and 4) thin films deposited on glass and Si substrates - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Journal of Alloys and Compounds Année : 2015

Structural and spectroscopic ellipsometry studies on vacuum-evaporated Sn2m−4Sb4S2m+2 (m = 2.5, 3 and 4) thin films deposited on glass and Si substrates

D. Abdelkader
  • Fonction : Auteur
F. Chaffar Akkari
  • Fonction : Auteur
N. Khemiri
  • Fonction : Auteur
F. Antoni
  • Fonction : Auteur
M. Kanzari
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01451551 , version 1 (01-02-2017)

Identifiants

Citer

D. Abdelkader, F. Chaffar Akkari, N. Khemiri, B. Gallas, F. Antoni, et al.. Structural and spectroscopic ellipsometry studies on vacuum-evaporated Sn2m−4Sb4S2m+2 (m = 2.5, 3 and 4) thin films deposited on glass and Si substrates. Journal of Alloys and Compounds, 2015, 646, pp.1049-1057. ⟨10.1016/j.jallcom.2015.06.114⟩. ⟨hal-01451551⟩
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