A Fully-Digital BIST Wrapper Based on Ternary Test Stimuli for the Dynamic Test of a 40 nm CMOS 18-bit Stereo Audio ΣΔ ADC - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers Année : 2016

A Fully-Digital BIST Wrapper Based on Ternary Test Stimuli for the Dynamic Test of a 40 nm CMOS 18-bit Stereo Audio ΣΔ ADC

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique Ingénierie assistée par ordinateur Systèmes embarqués Modélisation et simulation Intelligence artificielle [cs.AI] Electronique
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Haralampos Stratigopoulos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

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Soumis le : vendredi 2 septembre 2022-10:20:01

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-10:09:43

Archivage à long terme le : samedi 3 décembre 2022-18:36:43

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Dates et versions

hal-01447789 , version 1 (02-09-2022)

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Citer

Manuel J. Barragan, Rshdee Alhakim, Haralampos-G. Stratigopoulos, Matthieu Dubois, Salvador Mir, et al.. A Fully-Digital BIST Wrapper Based on Ternary Test Stimuli for the Dynamic Test of a 40 nm CMOS 18-bit Stereo Audio ΣΔ ADC. IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, 2016, ⟨10.1109/TCSI.2016.2602387⟩. ⟨hal-01447789⟩

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