Automated test generation for synchronous controllers - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01424800 , version 1 (02-01-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01424800 , version 1

Citer

Mouna Tka Mnad, Christophe Deleuze, Ioannis Parissis, Jackie Launay, Jean-Baptiste Gning. Automated test generation for synchronous controllers. 11th International Workshop on Automation of Software (AST) , May 2016, Austin, TX, United States. ⟨hal-01424800⟩

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