Communication Dans Un Congrès
Année : 2016
sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01399905
Soumis le : lundi 21 novembre 2016-10:35:01
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01399905 , version 1
Citer
Rosario d'Esposito, Sebastien Fregonese, Thomas Zimmer, Anjan Chakravorty. Dedicated test-structures for investigation of the thermal impact of the BEOL in advanced SiGe HBTs in time and frequency domain. 2016 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), Mar 2016, Yokohama, Japan. ⟨hal-01399905⟩
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