Error analysis for near-field EMC problems based on multipolar expansion approach
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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Communication Dans Un Congrès
Année : 2016
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https://hal.science/hal-01393474
Soumis le : mardi 2 avril 2019-14:36:08
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:10
Archivage à long terme le : mercredi 3 juillet 2019-15:16:24
Citer
Zhao Li, François Tavernier, Arnaud Bréard, Laurent Krähenbühl, Damien Voyer. Error analysis for near-field EMC problems based on multipolar expansion approach. IEEE CEFC, Nov 2016, Miami, FL, United States. pp.CD, ⟨10.1109/CEFC.2016.7816346⟩. ⟨hal-01393474⟩
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