Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Ouvrages Année : 2016

Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices

Fiabilité, robustesse et mécanismes de défaillance de dispositifs à LEDs

Mots clés

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01380736 , version 1 (13-10-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01380736 , version 1

Citer

Yannick Deshayes, Laurent Béchou. Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices. ISTE. ELSEVIER, 1, 2016, Durability, Robustness and Reliability of Photoni Devices, Yannick Deshayes, 978-1-78548-152-9. ⟨hal-01380736⟩
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