Terahertz imaging of Landau levels in HgTe-based topological insulators - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 2016

Terahertz imaging of Landau levels in HgTe-based topological insulators

Aleksandr M. Kadykov
  • Fonction : Auteur
Sergey S. Krishtopenko
  • Fonction : Auteur
Christophe Consejo
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  • PersonId : 995043
Sandra Ruffenach
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 995042
Michal Marcinkiewicz
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Dmytro But
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Wojciech Knap
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  • PersonId : 1011541
Sergey V. Morozov
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Vladimir I. Gavrilenko
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Nikolai N. Mikhailov
  • Fonction : Auteur
Sergey A. Dvoretsky
  • Fonction : Auteur

Résumé

We report on sub-terahertz photoconductivity under the magnetic field of a two dimensional topologicalinsulator based on HgTe quantum wells. We perform a detailed visualization of Landau levelsby means of photoconductivity measured at different gate voltages. This technique allows oneto determine a critical magnetic field, corresponding to topological phase transition from invertedto normal band structure, even in almost gapless samples. The comparison with realistic calculationsof Landau levels reveals a smaller role of bulk inversion asymmetry in HgTe quantum wellsthan it was assumed previously.
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01358769 , version 1 (01-09-2016)

Identifiants

Citer

Aleksandr M. Kadykov, Jeremie Torres, Sergey S. Krishtopenko, Christophe Consejo, Sandra Ruffenach, et al.. Terahertz imaging of Landau levels in HgTe-based topological insulators. Applied Physics Letters, 2016, 108 (26), pp.262102. ⟨10.1063/1.4955018⟩. ⟨hal-01358769⟩
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