Quantification 2D et 3D par tomographie FIB/SEM de la porosité d’une brasure à base d’argent fritté pour un nouveau composant microélectronique - Archive ouverte HAL
Poster De Conférence Année : 2015

Quantification 2D et 3D par tomographie FIB/SEM de la porosité d’une brasure à base d’argent fritté pour un nouveau composant microélectronique

Wafaa Rmili
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de Mécanique et de Rhéologie
Nicolas Vivet
  • Fonction : Auteur
STMicroelectronics [Tours]
Sylvain Chupin
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 778368
  • IdRef : 140240365
CEA Le Ripault
Tristan Le Bihan
  • Fonction : Auteur
CEA Le Ripault
Guenhael Le Quilliec
Laboratoire de Mécanique et de Rhéologie
CV
Caroline Richard
Laboratoire de Mécanique et de Rhéologie
CV

Domaines

Mécanique des matériaux [physics.class-ph] Matériaux Thermique [physics.class-ph] Electronique

Guenhael Le Quilliec  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01333158

Soumis le : jeudi 16 juin 2016-20:56:55

Dernière modification le : mardi 17 septembre 2024-12:00:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01333158 , version 1 (16-06-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01333158 , version 1

Citer

Wafaa Rmili, Nicolas Vivet, Sylvain Chupin, Tristan Le Bihan, Guenhael Le Quilliec, et al.. Quantification 2D et 3D par tomographie FIB/SEM de la porosité d’une brasure à base d’argent fritté pour un nouveau composant microélectronique. Deuxièmes Journées Matériaux Numériques, Feb 2015, Saint-Aignan, France. ⟨hal-01333158⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CEA UNIV-TOURS DAM INSA-GROUPE INSA-CVL
193 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More