Far-field diffraction microscopy at λ/10 resolution - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Optica Année : 2016

Far-field diffraction microscopy at λ/10 resolution

Ting Zhang
Charankumar Godavarthi
  • Fonction : Auteur
Patrick C. Chaumet
  • Fonction : Auteur
Guillaume Maire
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 757403
  • IdRef : 197637507
Hugues Giovannini
  • Fonction : Auteur
Anne Talneau
Marc Allain
Kamal Belkebir
  • Fonction : Auteur
Anne Sentenac
  • Fonction : Auteur

Résumé

Tomographic diffraction microscopy is a three-dimensional quantitative optical imaging technique in which the sample is numerically reconstructed from tens of holograms recorded under different angles of incidence. We show that combining the measurement of the amplitude, the phase, and the polarization of the field scattered by the sample with an approximate knowledge of the sample permittivity allows reconstruction of spatially complex samples up to 50 nm resolution. This technique should be particularly useful for imaging objects made of known materials.
Fichier principal
Vignette du fichier
optica-3-6-609.pdf (1.14 Mo) Télécharger le fichier
Origine Fichiers éditeurs autorisés sur une archive ouverte
Loading...

Dates et versions

hal-01328835 , version 1 (12-02-2020)

Identifiants

Citer

Ting Zhang, Charankumar Godavarthi, Patrick C. Chaumet, Guillaume Maire, Hugues Giovannini, et al.. Far-field diffraction microscopy at λ/10 resolution. Optica, 2016, 3 (6), pp.609-612. ⟨10.1364/OPTICA.3.000609⟩. ⟨hal-01328835⟩
119 Consultations
56 Téléchargements

Altmetric

Partager

More