Thermal nanometrology and scanning thermal microscopy - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Thermal nanometrology and scanning thermal microscopy

Séverine Gomès
Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon
CV
Stéphane Lefèvre
Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon
CV
Pierre-Olivier Chapuis
Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon
CV

Domaines

Thermique [physics.class-ph]

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https://hal.science/hal-01288253

Soumis le : lundi 14 mars 2016-17:45:46

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:02

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Dates et versions

hal-01288253 , version 1 (14-03-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01288253 , version 1

Citer

Séverine Gomès, Stéphane Lefèvre, Pierre-Olivier Chapuis. Thermal nanometrology and scanning thermal microscopy. E-MRS Symposium on “Analytical Techniques for Precise Characterization of Nanomaterials", May 2014, Lille, France. ⟨hal-01288253⟩

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