A global optimization for scan chain insertion at the RT-level - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

A global optimization for scan chain insertion at the RT-level

Résumé

We present a new method for scan chain ordering specifically tailored for RTL-scan and its unique challenges.

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Informatique [cs]
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Lilia Zaourar, Yann Kieffer, Chouki Aktouf. A global optimization for scan chain insertion at the RT-level. IEEE Annual Symposium on VLSI 2011, Jul 2011, Chennai, India. pp.321-322, ⟨10.1109/ISVLSI.2011.46⟩. ⟨hal-01284901⟩

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