Caractérisation de matériaux à l’aide d’une cavité Klystron : Détermination des Caractéristiques Diélectriques et de l’épaisseur de l’échantillon - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Caractérisation de matériaux à l’aide d’une cavité Klystron : Détermination des Caractéristiques Diélectriques et de l’épaisseur de l’échantillon

Apedjinou Anoumou
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 976550
Dominique Cros
Valérie Madrangeas
Damien Passerieux
Michel Aubourg
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 915586

Résumé

L’utilisation de la cavité de type klystron dans le domaine microonde présente certains avantages liés notamment aux dimensions de la structure qui sont très inférieures à la longueur d’onde. Dans cet article nous présentons une cavité munie d’un système de couplage original conduisant à une réponse en fréquence proche de celle des résonateurs piézoélectriques. Ce type de réponse permet lors de la caractérisation des matériaux de remonter à la fois à leur permittivité complexe et à leur épaisseur. La bonne connaissance des épaisseurs notamment dans le cas des couches minces permet d’obtenir des caractéristiques diélectriques très précises.
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01272432 , version 1 (10-02-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01272432 , version 1

Citer

Apedjinou Anoumou, Dominique Cros, Valérie Madrangeas, Damien Passerieux, Michel Aubourg, et al.. Caractérisation de matériaux à l’aide d’une cavité Klystron : Détermination des Caractéristiques Diélectriques et de l’épaisseur de l’échantillon. Quatrième colloque francophone PLUridisciplinaire sur les Matériaux, l’Environnement et l’Electronique (PLUMEE 2015), Jun 2015, Limoges, France. ⟨hal-01272432⟩

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