Introduction à la microscopie confocale et techniques de spectroscopie associées pour la caractérisation de matériaux pour l’électronique et le PV - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Introduction à la microscopie confocale et techniques de spectroscopie associées pour la caractérisation de matériaux pour l’électronique et le PV

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Optique [physics.optics]

Alexandre Jaffré  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01259200

Soumis le : mercredi 20 janvier 2016-10:22:07

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:01

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Dates et versions

hal-01259200 , version 1 (20-01-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01259200 , version 1

Citer

Alexandre Jaffré, J Alvarez, A Roigé, Jean-Paul Kleider. Introduction à la microscopie confocale et techniques de spectroscopie associées pour la caractérisation de matériaux pour l’électronique et le PV. Journées Nationales du Photovoltaïque 2015 (JNPV 2015), Denis Mencaraglia, Dec 2015, Dourdan, France. ⟨hal-01259200⟩

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