Editorial, Microelectronics Reliability, Volume 55, Issues 9–10, August–September 2015 - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2015

Editorial, Microelectronics Reliability, Volume 55, Issues 9–10, August–September 2015

Marise Bafleur
Équipe Énergie et Systèmes Embarqués
CV
Philippe Perdu
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 839676
Centre National d'Études Spatiales [Toulouse]
François Marc
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Hélène Frémont
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Nicolas Nolhier
Équipe Énergie et Systèmes Embarqués

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-01257965

Soumis le : lundi 18 janvier 2016-14:38:38

Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:22

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hal-01257965 , version 1 (18-01-2016)

Identifiants

Citer

Marise Bafleur, Philippe Perdu, François Marc, Hélène Frémont, Nicolas Nolhier. Editorial, Microelectronics Reliability, Volume 55, Issues 9–10, August–September 2015. Microelectronics Reliability, 2015, 55 (9-10), pp.1269-1270. ⟨10.1016/j.microrel.2015.09.028⟩. ⟨hal-01257965⟩

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