Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2015
Hélène Fremont : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01257965
Soumis le : lundi 18 janvier 2016-14:38:38
Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:22
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01257965 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2015.09.028
Citer
Marise Bafleur, Philippe Perdu, François Marc, Hélène Frémont, Nicolas Nolhier. Editorial, Microelectronics Reliability, Volume 55, Issues 9–10, August–September 2015. Microelectronics Reliability, 2015, 55 (9-10), pp.1269-1270. ⟨10.1016/j.microrel.2015.09.028⟩. ⟨hal-01257965⟩
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