Editorial, Microelectronics Reliability, Volume 55, Issues 9–10, August–September 2015 - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2015

Editorial, Microelectronics Reliability, Volume 55, Issues 9–10, August–September 2015

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Dates et versions

hal-01257965 , version 1 (18-01-2016)

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Citer

Marise Bafleur, Philippe Perdu, François Marc, Hélène Frémont, Nicolas Nolhier. Editorial, Microelectronics Reliability, Volume 55, Issues 9–10, August–September 2015. Microelectronics Reliability, 2015, 55 (9-10), pp.1269-1270. ⟨10.1016/j.microrel.2015.09.028⟩. ⟨hal-01257965⟩
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