Microelectronics Reliability Volume 55, Issues 9–10 - Archive ouverte HAL
Ouvrages Année : 2015

Microelectronics Reliability Volume 55, Issues 9–10

Philippe Perdu
  • Fonction : Directeur scientifique
  • PersonId : 839676
Centre National d'Études Spatiales [Toulouse]
François Marc
  • Fonction : Directeur scientifique
  • PersonId : 16571
  • IdHAL : frmarc
  • IdRef : 158656628
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Marise Bafleur
Équipe Énergie et Systèmes Embarqués
CV
Hélène Fremont
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Nicolas Nolhier
Équipe Énergie et Systèmes Embarqués

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Hélène Fremont  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01257945

Soumis le : lundi 18 janvier 2016-14:26:30

Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:22

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01257945 , version 1 (18-01-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01257945 , version 1

Citer

Philippe Perdu, François Marc, Marise Bafleur, Hélène Fremont, Nicolas Nolhier (Dir.). Microelectronics Reliability Volume 55, Issues 9–10. Volume 55, ( Issues 9–10), 2015, Microelectronics Reliability. ⟨hal-01257945⟩

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