The combination of adaptive database SDM and multi-output SVM for eddy current testing - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue COMPEL: The International Journal for Computation and Mathematics in Electrical and Electronic Engineering Année : 2015

The combination of adaptive database SDM and multi-output SVM for eddy current testing

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Yann Le Bihan  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01254657

Soumis le : mardi 12 janvier 2016-15:18:55

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:01

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Dates et versions

hal-01254657 , version 1 (12-01-2016)

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Citer

Chelabi Mohamed, Tarik Hacib, Zoubida Belli, Mohamed Rachid Mekideche, Yann Le Bihan. The combination of adaptive database SDM and multi-output SVM for eddy current testing. COMPEL: The International Journal for Computation and Mathematics in Electrical and Electronic Engineering, 2015, 34 (6), pp.1731-1739. ⟨10.1108/COMPEL-12-2014-0348⟩. ⟨hal-01254657⟩

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