Characterization and modeling of low-frequency noise in CVD-grown graphene FETs - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Characterization and modeling of low-frequency noise in CVD-grown graphene FETs

Chhandak Mukherjee
Jorgue-Daniel Aguirre-Morales
  • Fonction : Auteur
Sebastien Fregonese
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Thomas Zimmer
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Cristell Maneux
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Henri Happy
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Wei Wei
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 916960

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

sebastien fregonese  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01235951

Soumis le : mardi 1 décembre 2015-09:29:35

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

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Dates et versions

hal-01235951 , version 1 (01-12-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01235951 , version 1

Citer

Chhandak Mukherjee, Jorgue-Daniel Aguirre-Morales, Sebastien Fregonese, Thomas Zimmer, Cristell Maneux, et al.. Characterization and modeling of low-frequency noise in CVD-grown graphene FETs. proceeding of the Solid State Device Research Conference (ESSDERC), 2015 45th European, Sep 2015, Gratz, Austria. ⟨hal-01235951⟩

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