Analysis of energy deposition and damage mechanisms in single layer optical thin films irradiated by IR and UV femtosecond pulses - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Analysis of energy deposition and damage mechanisms in single layer optical thin films irradiated by IR and UV femtosecond pulses

Dam-Bé Douti
  • Fonction : Auteur
ILM
Laurent Gallais
ILM
Christophe Hecquet
Thomas Bégou
  • Fonction : Auteur
Julien Lumeau
Mireille Commandre
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 832173
ILM
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01230191 , version 1 (18-11-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01230191 , version 1

Citer

Dam-Bé Douti, Laurent Gallais, Christophe Hecquet, Thomas Bégou, Julien Lumeau, et al.. Analysis of energy deposition and damage mechanisms in single layer optical thin films irradiated by IR and UV femtosecond pulses. Optical Systems Design 2015: Advances in Optical Thin Films V, 2015, jena, Germany. pp.962718. ⟨hal-01230191⟩
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