Analysis of energy deposition and damage mechanisms in single layer optical thin films irradiated by IR and UV femtosecond pulses - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Analysis of energy deposition and damage mechanisms in single layer optical thin films irradiated by IR and UV femtosecond pulses

Dam-Bé Douti
  • Fonction : Auteur
ILM
Laurent Gallais
ILM
CV
Christophe Hecquet
Institut FRESNEL
CV
Thomas Bégou
  • Fonction : Auteur
RCMO
Julien Lumeau
RCMO
Mireille Commandre
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 832173
ILM

Domaines

Optique [physics.optics]

Laurent Gallais  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01230191

Soumis le : mercredi 18 novembre 2015-08:26:09

Dernière modification le : mardi 4 juin 2024-11:06:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01230191 , version 1 (18-11-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01230191 , version 1

Citer

Dam-Bé Douti, Laurent Gallais, Christophe Hecquet, Thomas Bégou, Julien Lumeau, et al.. Analysis of energy deposition and damage mechanisms in single layer optical thin films irradiated by IR and UV femtosecond pulses. Optical Systems Design 2015: Advances in Optical Thin Films V, 2015, jena, Germany. pp.962718. ⟨hal-01230191⟩

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