Overview on sustainability, robustness and reliability of GaN single chip LED devices - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Device and Materials Reliability Année : 2015

Overview on sustainability, robustness and reliability of GaN single chip LED devices

Yannick Deshayes
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 841114
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Raphael Baillot
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Simon Joly
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 18035
  • IdHAL : simonjoly
Yves Ousten
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 843534
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Laurent Béchou
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 843533
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Optique / photonique

Yannick Deshayes  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01221533

Soumis le : mercredi 28 octobre 2015-11:14:39

Dernière modification le : lundi 11 septembre 2023-16:36:51

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01221533 , version 1 (28-10-2015)

Identifiants

Citer

Yannick Deshayes, Raphael Baillot, Simon Joly, Yves Ousten, Laurent Béchou. Overview on sustainability, robustness and reliability of GaN single chip LED devices. IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2015, ⟨10.1109/TDMR.2015.2488978⟩. ⟨hal-01221533⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS IMS-BORDEAUX IMS-BORDEAUX-FUSION
145 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

More