Investigation of Electrical Characteristics of Multi-Gate Bulk nMOSFET

Inga Jolanta Zbierska; L. Militaru; F. Calmon; Sylvain Feruglio; Guo-Neng Lu

doi:10.1109/MIEL.2014.6842094

Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Investigation of Electrical Characteristics of Multi-Gate Bulk nMOSFET

(1, 2) , (2) , (2) , (3) , (1)

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3

Inga Jolanta Zbierska

Fonction : Auteur

INL - Conception de Systèmes Hétérogènes

INL - Dispositifs Electroniques

L. Militaru

Fonction : Auteur

INL - Dispositifs Electroniques

F. Calmon

Fonction : Auteur
PersonId : 20789
IdHAL : francis-calmon
ORCID : 0000-0001-5076-076X
IdRef : 096255838

INL - Dispositifs Electroniques

CV

Sylvain Feruglio

Fonction : Auteur
PersonId : 5151
IdHAL : feruglio
ORCID : 0000-0002-6444-2671
IdRef : 098578944

Systèmes Electroniques

CV

Guo-Neng Lu

Fonction : Auteur

INL - Conception de Systèmes Hétérogènes

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique

Sylvain Feruglio : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01201800

Soumis le : vendredi 18 septembre 2015-10:10:30

Dernière modification le : mardi 11 avril 2023-15:16:28

Dates et versions

hal-01201800 , version 1 (18-09-2015)

Identifiants

HAL Id : hal-01201800 , version 1
DOI : 10.1109/MIEL.2014.6842094

Citer

Inga Jolanta Zbierska, L. Militaru, F. Calmon, Sylvain Feruglio, Guo-Neng Lu. Investigation of Electrical Characteristics of Multi-Gate Bulk nMOSFET. 29th International Conference on Microelectronics - MIEL 2014, May 2014, Belgrade, Serbia. pp.95 - 98, ⟨10.1109/MIEL.2014.6842094⟩. ⟨hal-01201800⟩

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