High Level Modeling of Signal Integrity in a USB 3.0 System - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

High Level Modeling of Signal Integrity in a USB 3.0 System

Ruomin Wang
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Julien Denoulet
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Electronique Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-01201797

Soumis le : vendredi 18 septembre 2015-10:03:57

Dernière modification le : mardi 11 avril 2023-15:16:28

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01201797 , version 1 (18-09-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01201797 , version 1

Citer

Ruomin Wang, Julien Denoulet, Sylvain Feruglio, Farouk Vallette, Patrick Garda. High Level Modeling of Signal Integrity in a USB 3.0 System. Micro/Nano-Electronics Packaging and Assembly, Design and Manufacturing (MiNaPAD), May 2014, Grenoble, France. ⟨hal-01201797⟩

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