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Communication Dans Un Congrès Année : 1998

Two Sine-Wave Generation Methods for Testing High Resolution ADCs

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01182499 , version 1 (31-07-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01182499 , version 1

Citer

Dominique Dallet, Breitenbach Arvid. Two Sine-Wave Generation Methods for Testing High Resolution ADCs. IWADC98, 1998, Naples, Italy. pp.429-433. ⟨hal-01182499⟩
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