How SI/EMC and reliability issues could interact together in embedded electronic systems? - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

How SI/EMC and reliability issues could interact together in embedded electronic systems?

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique

Genevieve Duchamp  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01180993

Soumis le : mardi 28 juillet 2015-16:42:26

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01180993 , version 1 (28-07-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01180993 , version 1

Citer

K. Weide-Zaage, A. Moujbani, G. Duchamp, Tristan Dubois, Frédéric Verdier, et al.. How SI/EMC and reliability issues could interact together in embedded electronic systems?. Joint IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and EMC Europe, Aug 2015, Dresden, Germany. ⟨hal-01180993⟩

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