Failure mechanism study and immunity modeling of an embedded analog-to-digital converter based on immunity measurements - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2015

Failure mechanism study and immunity modeling of an embedded analog-to-digital converter based on immunity measurements

Ala Ayed
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Tristan Dubois
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Jean-Luc Levant
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 861662
ATMEL-NANTES
Geneviève Duchamp
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Electronique

Genevieve Duchamp  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01180979

Soumis le : mardi 28 juillet 2015-16:16:35

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01180979 , version 1 (28-07-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01180979 , version 1

Citer

Ala Ayed, Tristan Dubois, Jean-Luc Levant, Geneviève Duchamp. Failure mechanism study and immunity modeling of an embedded analog-to-digital converter based on immunity measurements. Microelectronics Reliability, 2015. ⟨hal-01180979⟩

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