Original Screening Methodology based on Correlation between Low-Frequency Noise Measurements and Reverse Bias Behavior of GaAs-based Laser Diodes - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Original Screening Methodology based on Correlation between Low-Frequency Noise Measurements and Reverse Bias Behavior of GaAs-based Laser Diodes

Pamela del Vecchio
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 966670
3S Photonics
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Arnaud Curutchet
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 853090
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Yannick Deshayes
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 841114
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Simon Joly
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 18035
  • IdHAL : simonjoly
Mauro Bettiati
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 956304
3S Photonics
François Laruelle
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 956305
3S Photonics
Laurent Bechou
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 843533
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Electronique Optique / photonique

Arnaud Curutchet  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01163620

Soumis le : lundi 15 juin 2015-10:38:06

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01163620 , version 1 (15-06-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01163620 , version 1

Citer

Pamela del Vecchio, Arnaud Curutchet, Yannick Deshayes, Simon Joly, Mauro Bettiati, et al.. Original Screening Methodology based on Correlation between Low-Frequency Noise Measurements and Reverse Bias Behavior of GaAs-based Laser Diodes. CLEO 2015 (Conference on Lasers and Electro-Optics), Jun 2015, munich, Germany. ⟨hal-01163620⟩

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