Article Dans Une Revue
Microelectronics Journal
Année : 2012
Nathalie Renois : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01161600
Soumis le : lundi 8 juin 2015-17:17:36
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:00
Citer
M. Chaoui, Richard Perdriau, Ghariani Hamadi, M. Lahiani. Electrical modeling of the sensitivity to misalignments of a class-E based inductive transcutaneous link. Microelectronics Journal, 2012, 43 (11), pp.721-729. ⟨10.1016/j.mejo.2012.07.013⟩. ⟨hal-01161600⟩
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