Simulations and Measurements to Predict EMC Characteristics in Electronic Assemblies: Obsolescence Management - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Simulations and Measurements to Predict EMC Characteristics in Electronic Assemblies: Obsolescence Management

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Hélène Fremont  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01153323

Soumis le : mardi 19 mai 2015-15:50:18

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01153323 , version 1 (19-05-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01153323 , version 1

Citer

Geneviève Duchamp, Tristan Dubois, Hélène Frémont. Simulations and Measurements to Predict EMC Characteristics in Electronic Assemblies: Obsolescence Management. Pan Pacific Symposium, Feb 2015, Kauai, United States. ⟨hal-01153323⟩

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