Analyse quantitative par diffraction des rayons X des défauts plans dans GaP/SI pour la photonique sur Si - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Analyse quantitative par diffraction des rayons X des défauts plans dans GaP/SI pour la photonique sur Si

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01137337 , version 1 (30-03-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01137337 , version 1

Citer

Yanping Wang, Thanh Tra Nguyen, Antoine Létoublon, Charles Cornet, Nicolas Bertru, et al.. Analyse quantitative par diffraction des rayons X des défauts plans dans GaP/SI pour la photonique sur Si. Réunion plénière du GDR Pulse (PULSE 2014), Oct 2014, Toulouse, France. ⟨hal-01137337⟩
179 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More