Communication Dans Un Congrès
Année : 2014
sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01134190
Soumis le : lundi 23 mars 2015-10:24:04
Dernière modification le : mercredi 15 novembre 2023-13:14:27
Citer
G. Sasso, Maneux C., J. Boeck, V. d'Alessandro, K. Aufinger, et al.. Evaluation and Modeling of Voltage Stress-Induced Hot Carrier Effects in High-Speed SiGe HBTs. Compound Semiconductor Integrated Circuit Symposium (CSICs), 2014 IEEE, Oct 2014, La Jolla, United States. ⟨10.1109/CSICS.2014.6978552⟩. ⟨hal-01134190⟩
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