Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Electron Devices
Année : 2015
sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01127979
Soumis le : lundi 9 mars 2015-09:34:57
Dernière modification le : mercredi 15 novembre 2023-13:14:27
Citer
Chhandak Mukherjee, Jorge-Daniel Aguirre-Morales, Sebastien Fregonese, Thomas Zimmer, Cristell Maneux. Versatile Compact Model for Graphene FET Targeting Reliability-Aware Circuit Design. IEEE Transactions on Electron Devices, 2015, 62 (3), pp.6. ⟨10.1109/TED.2015.2395134⟩. ⟨hal-01127979⟩
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