Using BEEM (Ballistic Electron Emission Microscopy) to probe buried interfaces in metal-organic monolayer-semiconductor hybrid heterostructures - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Using BEEM (Ballistic Electron Emission Microscopy) to probe buried interfaces in metal-organic monolayer-semiconductor hybrid heterostructures

Alexandra Junay
Institut de Physique de Rennes
Sophie Guézo
Institut de Physique de Rennes
CV
Francine Solal
Institut de Physique de Rennes
Soraya Ababou-Girard
Institut de Physique de Rennes
CV
Pascal Turban
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 896
  • IdHAL : pturban
Institut de Physique de Rennes
Gabriel Delhaye
Institut de Physique de Rennes
Sylvain Tricot
Institut de Physique de Rennes
CV
Cristelle Mériadec
Institut de Physique de Rennes

Domaines

Physique [physics]

Alexandra Junay  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01126579

Soumis le : vendredi 6 mars 2015-12:02:21

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:00

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01126579 , version 1 (06-03-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01126579 , version 1

Citer

Alexandra Junay, Sophie Guézo, Francine Solal, Soraya Ababou-Girard, Pascal Turban, et al.. Using BEEM (Ballistic Electron Emission Microscopy) to probe buried interfaces in metal-organic monolayer-semiconductor hybrid heterostructures. Journées Nanosciences et Nanotechnologies du Nord Ouest, Nov 2013, Rennes, France. ⟨hal-01126579⟩

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