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Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Using BEEM (Ballistic Electron Emission Microscopy) to probe buried interfaces in metal-organic monolayer-semiconductor hybrid heterostructures

Alexandra Junay
Sophie Guézo
Francine Solal
Pascal Turban
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 896
  • IdHAL : pturban
Gabriel Delhaye
Sylvain Tricot
Cristelle Mériadec
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01126579 , version 1 (06-03-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01126579 , version 1

Citer

Alexandra Junay, Sophie Guézo, Francine Solal, Soraya Ababou-Girard, Pascal Turban, et al.. Using BEEM (Ballistic Electron Emission Microscopy) to probe buried interfaces in metal-organic monolayer-semiconductor hybrid heterostructures. Journées Nanosciences et Nanotechnologies du Nord Ouest, Nov 2013, Rennes, France. ⟨hal-01126579⟩
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