Analysis of force-volume images in atomic force microscopy using sparse approximation - Archive ouverte HAL
Chapitre D'ouvrage Année : 2015

Analysis of force-volume images in atomic force microscopy using sparse approximation

Domaines

Traitement du signal et de l'image [eess.SP]

Charles Soussen  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01119712

Soumis le : lundi 23 février 2015-18:17:13

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:15

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Dates et versions

hal-01119712 , version 1 (23-02-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01119712 , version 1

Citer

Charles Soussen, David Brie, Gregory Francius, Jérome Idier. Analysis of force-volume images in atomic force microscopy using sparse approximation. Jean-François Giovannelli et Jérôme Idier. Regularization and Bayesian methods for inverse problems in signal and image processing, ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, pp.31-56, 2015, 978-1-84821-637-2. ⟨hal-01119712⟩

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