Communication Dans Un Congrès
Année : 2014
Elsa YEE KIN CHOI : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01117698
Soumis le : mardi 17 février 2015-15:45:55
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:00
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01117698 , version 1
Citer
Elsa Yee Kin Choi, Erwann Carvou, Christine Bourda, Alexandre Vassa, Noureddine Ben Jemaa, et al.. Contact voltage analysis for degraded contact surface by power arcing phenomenon.. 60th IEEE Holm Conference on electrical contacts, Oct 2014, New Orleans, United States. ⟨hal-01117698⟩
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