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Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Contact voltage analysis for degraded contact surface by power arcing phenomenon.

Elsa Yee Kin Choi
Erwann Carvou
Alexandre Vassa
  • Fonction : Auteur
Noureddine Ben Jemaa
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01117698 , version 1 (17-02-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01117698 , version 1

Citer

Elsa Yee Kin Choi, Erwann Carvou, Christine Bourda, Alexandre Vassa, Noureddine Ben Jemaa, et al.. Contact voltage analysis for degraded contact surface by power arcing phenomenon.. 60th IEEE Holm Conference on electrical contacts, Oct 2014, New Orleans, United States. ⟨hal-01117698⟩
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