Quantitative evaluation of microtwins and antiphase defects in GaP/Si nanolayers for III-V photonics platform on silicon - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Quantitative evaluation of microtwins and antiphase defects in GaP/Si nanolayers for III-V photonics platform on silicon

Thanh Tra Nguyen
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 931660
Nathalie Boudet
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 937286

Domaines

Matériaux
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01115004 , version 1 (10-02-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01115004 , version 1

Citer

Yanping Wang, Antoine Létoublon, Thanh Tra Nguyen, Julien Stodolna, Nicolas Bertru, et al.. Quantitative evaluation of microtwins and antiphase defects in GaP/Si nanolayers for III-V photonics platform on silicon. 12th Biennal Conference on High-Resolution X-Ray Diffraction and Imaging, Sep 2014, Villard de Lans, France. ⟨hal-01115004⟩
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