Effet de défauts lacunaires dans les matériaux d’interconnexion - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Chapitre D'ouvrage Année : 2015
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01114117 , version 1 (07-02-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01114117 , version 1

Citer

Pierre-Richard Dahoo, Malika Khettab, Christian Chong, Armelle Girard, Philippe Pougnet. Effet de défauts lacunaires dans les matériaux d’interconnexion. Abdelkhalak El Hami et Philippe Pougnet. Les systèmes mécatroniques embarqués 2. Analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation, 2, ISTE éditions, Chapitre 4, pp. 99-122, 2015, Collection: Génie mécanique et mécanique des solides, 978-1-78405-059-7. ⟨hal-01114117⟩
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