Méthode RFIP : vers une meilleure caractérisation de l’immunité des circuits intégrés - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Méthode RFIP : vers une meilleure caractérisation de l’immunité des circuits intégrés

Ala Ayed
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Tristan Dubois
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Jean-Luc Levant
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 861662
ATMEL-NANTES
Geneviève Duchamp
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Electronique

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https://hal.science/hal-01109486

Soumis le : lundi 26 janvier 2015-14:10:15

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01109486 , version 1 (26-01-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01109486 , version 1

Citer

Ala Ayed, Tristan Dubois, Jean-Luc Levant, Geneviève Duchamp. Méthode RFIP : vers une meilleure caractérisation de l’immunité des circuits intégrés. CEM 2014, 17ème Colloque international et exposition sur la Compatibilité Electromagnétique, Jul 2014, Clermont-Ferrand, France. ⟨hal-01109486⟩

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