Méthode RFIP : vers une meilleure caractérisation de l’immunité des circuits intégrés - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Méthode RFIP : vers une meilleure caractérisation de l’immunité des circuits intégrés

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01109486 , version 1 (26-01-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01109486 , version 1

Citer

Ala Ayed, Tristan Dubois, Jean-Luc Levant, Geneviève Duchamp. Méthode RFIP : vers une meilleure caractérisation de l’immunité des circuits intégrés. CEM 2014, 17ème Colloque international et exposition sur la Compatibilité Electromagnétique, Jul 2014, Clermont-Ferrand, France. ⟨hal-01109486⟩
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