Analyse de la fiabilité de filières technologiques de diodes électroluminescentes pour des applications spatiales : synthèse bibliographique (technologies AlGaAs/GaAs, AlGaInP/GaP, InGaN/GaN) - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Rapport (Rapport De Recherche) Année : 2004

Analyse de la fiabilité de filières technologiques de diodes électroluminescentes pour des applications spatiales : synthèse bibliographique (technologies AlGaAs/GaAs, AlGaInP/GaP, InGaN/GaN)

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01096080 , version 1 (16-12-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01096080 , version 1

Citer

Othman Rehioui, Laurent Béchou, Yannick Deshayes, Lionel Hirsch, Yves Danto. Analyse de la fiabilité de filières technologiques de diodes électroluminescentes pour des applications spatiales : synthèse bibliographique (technologies AlGaAs/GaAs, AlGaInP/GaP, InGaN/GaN): Rapport de contrat pour le CNES - Marché CNES N°03/CNES/1445-DPI500. [Rapport de recherche] CNES; IMS. 2004. ⟨hal-01096080⟩
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