Communication Dans Un Congrès
Année : 2014
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https://hal.science/hal-01044952
Soumis le : jeudi 24 juillet 2014-13:47:51
Dernière modification le : samedi 27 septembre 2025-19:56:44
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01044952 , version 1
Citer
Asma Abu Samah, Muhammad Kashif Shahzad, Éric Zamaï, Stephane Hubac. Methodology for Integrated Failure-Cause Diagnosis with Bayesian Approach : Application to Semiconductor Manufacturing Equipment. Second European Conference of the Prognostics and Health Management Society 2014, Jul 2014, Nantes, France. ⟨hal-01044952⟩
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