Réduction des paramètres de sortie des circuits analogiques par l’estimation des métriques de test - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Réduction des paramètres de sortie des circuits analogiques par l’estimation des métriques de test

Mots clés

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01025164 , version 1 (17-07-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01025164 , version 1

Citer

K. Beznia, Ahcène Bounceur, R. Euler, Salvador Mir. Réduction des paramètres de sortie des circuits analogiques par l’estimation des métriques de test. Journées GDR SoC-SiP, Jun 2013, Lyon, France. ⟨hal-01025164⟩
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