Réduction des paramètres de sortie des circuits analogiques par l’estimation des métriques de test - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Réduction des paramètres de sortie des circuits analogiques par l’estimation des métriques de test

K. Beznia
  • Fonction : Auteur
Université de Brest
Ahcène Bounceur
Université de Brest
CV
R. Euler
Université de Brest
Salvador Mir
Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés

Mots clés

test circuits..........

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Lucie Torella  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01025164

Soumis le : jeudi 17 juillet 2014-11:27:50

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-09:26:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01025164 , version 1 (17-07-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01025164 , version 1

Citer

K. Beznia, Ahcène Bounceur, R. Euler, Salvador Mir. Réduction des paramètres de sortie des circuits analogiques par l’estimation des métriques de test. Journées GDR SoC-SiP, Jun 2013, Lyon, France. ⟨hal-01025164⟩

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