Estimation des métriques de test analogique à base d'un échantillon multivarié de circuits extrêmes - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2013
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01025149 , version 1 (17-07-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01025149 , version 1

Citer

K. Beznia, Ahcène Bounceur, R. Euler, Salvador Mir. Estimation des métriques de test analogique à base d'un échantillon multivarié de circuits extrêmes. 16ème Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM'13), Jun 2013, Grenoble, France. ⟨hal-01025149⟩
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