Long term in-vacuum reliability testing of 980nm Laser Diode Pump Modules for Space Applications - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Long term in-vacuum reliability testing of 980nm Laser Diode Pump Modules for Space Applications

Domaines

Electronique

Isabelle Bord  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01022862

Soumis le : vendredi 11 juillet 2014-09:35:14

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01022862 , version 1 (11-07-2014)

Identifiants

Citer

G. Pedroza, L. Bechou, Y. Ousten, Ls. How, O. Gilard, et al.. Long term in-vacuum reliability testing of 980nm Laser Diode Pump Modules for Space Applications. IEEE Aerospace Conference, Mar 2014, Big Sky, United States. pp. 1-14, ⟨10.1109/AERO.2014.6836254⟩. ⟨hal-01022862⟩

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