Characterization of Mutual Heating inside a SiGe Ring Oscillator - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Characterization of Mutual Heating inside a SiGe Ring Oscillator

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

sebastien fregonese  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01002179

Soumis le : jeudi 5 juin 2014-17:02:16

Dernière modification le : mercredi 15 novembre 2023-13:14:27

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01002179 , version 1 (05-06-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01002179 , version 1

Citer

M. Weiss, S. Ghosh, M. Santorelli, P. Chevalier, A. Chantre, et al.. Characterization of Mutual Heating inside a SiGe Ring Oscillator. Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM), 2012 IEEE, Sep 2012, Portland, United States. pp.1-4. ⟨hal-01002179⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS IMS-BORDEAUX IMS-BORDEAUX-FUSION
30 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More