Characterization of Mutual Heating inside a SiGe Ring Oscillator - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2012
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01002179 , version 1 (05-06-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01002179 , version 1

Citer

M. Weiss, S. Ghosh, M. Santorelli, P. Chevalier, A. Chantre, et al.. Characterization of Mutual Heating inside a SiGe Ring Oscillator. Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM), 2012 IEEE, Sep 2012, Portland, United States. pp.1-4. ⟨hal-01002179⟩
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